空氣氣密測(cè)試儀,解讀那些因素使用空氣氣密性檢測(cè)結(jié)果具有影響力-希立儀器

文章來源:希立儀器 發(fā)表時(shí)間:


影響空氣氣密性檢測(cè)儀結(jié)果的因素,還要說是測(cè)試時(shí)溫度和體積的變化,及外部在氣壓的影響。在測(cè)試過程中,空氣回路中的溫度體積發(fā)生變化,根據(jù)Charle法則會(huì)引起壓力的變化,從而給空氣氣密性測(cè)試儀帶來一定的影響。


空氣氣密性測(cè)試儀溫度因素:例如溫度環(huán)境相差5攝氏度時(shí),差別約為1.7%。而如果氣密測(cè)試中發(fā)生溫度變化,會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果帶來較大的影響!(溫度變化,會(huì)空氣分子活躍,造成一定的壓力波動(dòng)),充氣過程中氣體分子摩擦?xí)?dǎo)致熱量產(chǎn)生,根據(jù)氣體方程,導(dǎo)致測(cè)試腔體內(nèi)部壓力升高,當(dāng)充氣結(jié)束后溫度又會(huì)緩慢恢復(fù)到正常的室溫,因此穩(wěn)壓時(shí)間如果不充足,即到氣密測(cè)試階段腔體內(nèi)部溫度仍出于下降的時(shí)間段,那么由此溫度下降所導(dǎo)致的壓力下降就會(huì)直接反映到氣密測(cè)試儀的泄漏量。


帶有與室溫具有一定差別的產(chǎn)品在進(jìn)行測(cè)試時(shí)會(huì)對(duì)充入的氣體持續(xù)較長(zhǎng)時(shí)間的加熱,或者降溫,如果是加熱的情況下,在氣密測(cè)試階段產(chǎn)品內(nèi)部的空氣壓力會(huì)不降反升,氣密測(cè)試結(jié)果會(huì)出現(xiàn)負(fù)值。直接由低溫環(huán)境拿到高溫環(huán)境測(cè)試的產(chǎn)品,氣密測(cè)試儀由于溫度的差別,也可能會(huì)出現(xiàn)測(cè)試負(fù)值的不同現(xiàn)象。


空氣氣密性測(cè)試儀檢測(cè)同一個(gè)產(chǎn)品的因素:對(duì)同一個(gè)產(chǎn)品做重復(fù)性測(cè)試時(shí),兩次測(cè)試之間需要間隔足夠多的時(shí)間,使用產(chǎn)品內(nèi)部的充進(jìn)的壓力恢復(fù)到正常值,否則也會(huì)帶有一定的影響,因?yàn)閮?nèi)部壓力并沒有下降的情況下檢測(cè),那么內(nèi)外壓力相差不大,很容易造成壓力平衡,從而給空氣氣密測(cè)試儀測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確帶來一定的影響。

空氣氣密測(cè)試完成后產(chǎn)品內(nèi)部的氣體被排出時(shí),會(huì)帶走產(chǎn)品及密封工裝上的部分氣溫。如果馬上對(duì)同一件產(chǎn)品進(jìn)行二次測(cè)試,就會(huì)出現(xiàn)產(chǎn)品內(nèi)部溫度先被降低后,保壓時(shí)升高回復(fù)的現(xiàn)象,導(dǎo)致測(cè)試階段腔內(nèi)部壓力有微小的上升象,會(huì)抵消部分原有的泄漏量,因而對(duì)極微小泄漏的檢測(cè)帶為較大的影響,這就是重復(fù)測(cè)試一個(gè)產(chǎn)品,每一次的泄漏值都有微小的變化的主要原因,這與空氣氣密測(cè)試儀的精度并無關(guān)聯(lián)。

空氣氣密性測(cè)試儀在真空的情況下,不受溫度變化的影響?測(cè)試誤差是隨著測(cè)試壓力的充大成正比增加。氣密測(cè)試壓力越接近真空,誤差越小。若氣密測(cè)試環(huán)境溫度穩(wěn)定,不同的溫度環(huán)境下對(duì)測(cè)試結(jié)果造成影響較小,氣密檢漏儀在一般情況下可忽略不計(jì)。


因此可知,溫度與體積會(huì)導(dǎo)致氣密測(cè)試儀檢驗(yàn)結(jié)果不準(zhǔn)確,但在真空狀態(tài)下,不受其變化。在使用氣密測(cè)試設(shè)備的過程中,要十分留意以上幾點(diǎn),以及相關(guān)的一些細(xì)節(jié),這樣,我們的檢測(cè)工作也會(huì)更加順利、高效。

空氣氣密性測(cè)試儀


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